明导如何找到最后1的良率损失新时代

作者：Geir Eide

您是百分之一吗？

自动化技术的领导厂商 Mentor Graphics近日发布一份题为《您是百分之一吗？》的研究报告。

前言、背景

半导体良率取决于许多因素。如果您的设备使用领先的工艺生产，您可能与代工厂不辞辛劳地密切合作以确保工艺和产品良率有一定程度的相应提升。不过，如果您的应用面向成熟节点进行了优化，良率可能就不会让你彻夜难眠了 -- 除非发生意外。

对于医疗和汽车市场所用设备，您需要仔细寻找一切可能影响品质或者可靠性的问题。我们通常亲切地称为 百分之一 的集成电路产品是指那些已经生产了足够长时间、产量足够高，还有额外的加成因此从产品生产成本的角度来看，值得想办法找出最后1%的良率损失。

全文要点

随着良率挑战数量的增加，许多无晶圆厂半导体公司采用了新技术，如诊断驱动的良率分析(diagnosis-driven yield ysis，DDYA)，该技术可以快速找到良率损失的根本原因，有效但我们还应看到区分面向设计和面向工艺的良率损失问题。例如，Freescale使用1 00个failing die的诊断分析结果在几周内将成熟良率提高了1.5%。诊断分析技术取得的新进步使 DDYA 比以往更具价值。

DDYA 有两个主要构成元素。首先，使用扫描诊断软件分析生产测试失败情况，根据设计描述、扫描测试图和测试仪故障数据找到缺陷位置和类别（图1）。